如何处理表面瑕疵检测中的光线角度问题

处理表面瑕疵检测中的光线角度问题，可以从以下几个方面进行：

1. 选择合适的光源角度：

高角度照明：图像整体更亮，适用于表面不反光的物体，可以让光照更加均匀，减少阴影部分的影响。

低角度照射：图像背景为黑色，特征为白色，这种照明方式可以突出被测物体的轮廓变化和表面凹凸变化，特别适用于划痕等缺陷的检测。

多角度照射：图像整体效果更柔和，适合曲面物体检测，可以获取更全面的缺陷信息。

背光照射：图像效果是被测物体清晰的黑白轮廓，通常用于尺寸测量，但在某些情况下也可用于突出缺陷。

同轴光照明：图像效果是明亮背景上的黑色特征，特别适用于检测反光厉害的平面物体，可以减少反光对缺陷检测的影响。

2. 考虑产品特性和检测要求：

根据产品的外观缺陷形状或材质特性，选择明场或暗场照明。例如，对于反光物体，可能需要采用暗场照明以减少反光干扰。

针对不同的检测要求，选择光源的常亮模式或频闪模式，以确保在检测过程中获得稳定的光照条件。

3. 利用图像处理技术：

在获取到图像后，可以利用图像处理技术进行进一步的光照校正。例如，对于整体光照不均匀，可以采用直方图均衡化、灰度世界假设等方法来调整图像的光照分布。

对于局部光照不均匀，可以利用图像分割技术将图像分成多个区域，然后针对每个区域进行独立的光照校正，以提高检测的准确性。

处理表面瑕疵检测中的光线角度问题需要从选择合适的光源角度、考虑产品特性和检测要求以及利用图像处理技术等多个方面进行综合考虑和优化。